Anritsu センシング＆デバイスカンパニー技術セミナー

OFDRにおける高精度リアルタイム歪分布測定の勘所を余さず解説

近年、OFDR(Optical Frequency Domain Reflectometry)によるファイバセンシングの研究が多く進められている。OFDRによる歪分布測定にはリニアライズ技術が必須であるが、従来の方法では、数ｍから数百ｍにわたって高精度にリニアライズすることができなかった。今回我々は、リニアライズに独自の処理方法を付加することにより、任意の位置で精密にリニアライズできる新手法を考案した。本セミナーではこの方法を用いた高精度リアルタイム歪分布測定結果について、また本ファイバセンシング技術を活用したアプリケーション例を紹介する。

※本セミナーは2025年11月時点の情報に基づいた内容となります。最新情報に関しては弊社へお問合せください。