5Gでは、電子回路基板、フレキシブル基板、有機 EL パネル、ケースカバー、多層基板間の絶縁シートなどの基板材料の性能 / 品質向上に向けて新たな素材の開発が進行しています。それら材料の低損失・低遅延を確認するため、基板材料（誘電体）の誘電率を測定することは極めて重要になります。
また、基板伝送路では周波数が上がるほど伝送損失は増加するため、100 GHz超にて低損失を可能とする材料が期待されます。基板伝送路の伝送損失を低減するために低比誘電率 (Dk, ε)・低誘電正接 (Df, tan δ) の材料が必要とされており、その材料を100 GHz超にて評価するための測定器を準備する必要があります。
フッ素材料の一種、PTFEの誘電率と誘電損失の高精度な測定を、ベクトルネットワークアナライザ（VNA）とTEモード共振器を用いて実演します。
ミリ波で活用される材料の誘電率と誘電損失を簡単に測定できるソリューションを紹介します。
5G-Advancedや6Gでの使用が想定されている材料の基本について紹介します。また、材料の特性を評価する上で、最低限必要なソリューションについて説明します。
本資料では、5G端末に搭載されるフレキシブル基板（FPC：Flexible Printed Circuits）材料に適した誘電率測定ソリューションについて紹介しています。
材料の誘電率測定には、利用シーンにより最適な測定法を選択する必要があります。本資料では、誘電率測定の課題や測定法について紹介しています。
高周波RFおよびマイクロ波アプリケーションを設計する際、コンポーネントおよびデバイスメーカと、そのエンジニアが直面する課題について解説します。偏光、誘電率、比誘電率、その他の重要なパラメータなどの概念を定義し、さまざまな材料に対する具体的な測定手順についてご説明します。
車載レーダーや5Gミリ波帯の実装に使用される各種材料に対応した比誘電率測定システムのご紹介です。パートナー企業の各種測定システムとベクトルネットワークアナライザを組み合わせて、フィルム、プラスチック、セラミックなど様々な材料を形状に合わせて最適に測定することが可能です。
パートナー企業の各種測定システムとベクトルネットワークアナライザを組み合わせて、材料の形態と要求性能に合わせた誘電率測定システムを提案します。
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